슐리렌법(schlieren method)
2010-08-19
투명한 매질(媒質) 속에 굴절률의 변화가 있을 때, 그 변화를 밝기의 차이로 바꾸어 관찰하는 광학적 측정법. 슐리렌은 광학적 불균일(光學的不均一 ; 脈理)이 라는 뜻의 독일어이다.
가장자리가 직선인 면광원(面光源)을 렌즈 L로 결상(結像)하여 그 상을 거의 덮을 정도로 역시 가장자리가 직선인 차광판을 상면(像面)에 삽입한다.
매질이 한결같으면 눈 또는 카메라 렌즈의 상면은 면광원의 상 중에서 차광판으로 덮이지 않은 부분에서 오는 빛에 의해 한결같이 조명된다.
[그림]에서 물결 모양으로 표시한 부분에 굴절률의 불균일이 있으면, 여기서 빛이 굴절하여 방향을 바꾸어 차광판으로 차단되도록 빛이 나아가는 부분에 대응하는 상면상(像面上)의 위치는 어둡고 차광판으로 차단되지 않도록 빛이 나아가는 부분에 대응하는 상면상의 위치는 보다 밝게 관찰된다.
양질의 슐리렌상을 얻으려면 고휘도의 광원과 수차(收差)가 잘 보정(補正)된 렌즈 L이 필요하다.
L의 지름이 클수록 큰 피검(被檢)부분의 측정을 할 수 있고 또 초점거리가 클수록 고감도의 측정을 할 수 있다.
피검부분이 광축 방향으로 안길이(대지〈垈地〉따위의 전면과 직각 방향의 거리)가 있을 때에도 광행로(光行路)를 따른 굴절률변화를 적분한 것이 명암으로 나타난다.
또 굴절률의 공간적 변화가 미세할 때에는 굴절이 아닌 회절로 다룰 필요가 있다.
면광원을 점광원으로 바꾸어 놓거나 렌즈 L을 오목거울로 바꾸어 놓은 배치도 사용된다.
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