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엑스선회절( X-ray diffraction)

작성일 2010-08-20

X선이 일으키는 회절. 결정(結晶)은 어떤 구조단위가 3차원적으로 규칙적인 배열을 한 결정격자(格子)의 구조를 가지고 있으므로 결정에 입사(入射)하는 X선의 빔이 어떤 격자면에 대해 브래그 조건을 만족시키고 있으면 특정한 방향으로 브래그반사를 일으킨다.

이와 같은 현상을 X선회절이라고 한다.

1912년에 M.라우에 등에 의해 처음으로 관찰되었고 그 후 물질구조, 특히 결정구조를 연구하는 중요한 방법이 되었다.

X선회절을 관찰하는 데는 다음과 같은 방법이 있다.

① 라우에법 : 결정 박판에 연속 파장 분포인 X선(연속 X선)을 통과시켜서 배후에 놓인 사진 필름 위에 많은 라우에 점무늬로 된 라우에 사진을 촬영한다.

② 회전결정법 : 어떤 결정축 주위에 작은결정을 회전시키면서 여기에 단색 X선을 비추어 사진필름 위에 한꺼번에 많은 브래그 반사를 기록하는 방법.

③ X선회절계에 의한 방법 : X선회절계는 각격자면에서 브래그 반사가 일어나도록 결정의 방위를 조절하고, 또 브래그 반사가 측정될수 있을만한 방위에서 계수기로 반사를 측정하는 일련의 조작을 자동적으로 수행하는 장치이며 결정구조의 정밀한연구에 대부분 이용된다.

④ 디바이-셰러법 : 분말결정법이라고도 하며 분말시료나 다결정질인 물질에 적용하는 방법으로 단색 X선을 사용하여 시료로의 디바이-셰러 고리에 상당하는 회절X선을 사진법 또는 X선회절계로 기록한다.

 

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