[요약] 투명매질 중에 굴절률이 변화하는 부분이 있을 때 빛의 진행방향의 변화를 이용해 그 모양을 관찰하는 광학적 방법이다. 투명한 매질 속에서 굴절률이 미소하게 변하는 부분을 광학적(光學的)으로 검출하는 방법. 예컨대 유리 속의 맥리(服理) 검출이나 밀도가 다른 공기의 흐름 충격파(衝擊波) 등의 검출에 사용된다. 원리[그림]는 핀홀 또는 슬릿 개구부 A를 강하게 조명하여 구면수차(球面收差)가 작은 대형 볼록렌즈 또는 오목면 거울 L 로 A상(像)을 받침날판 D의 가장자리 위에 결상(結像)시킨다. 시료(試料) C를 L의 뒤쪽에 놓고, 차광판(遮光板) D 바로 뒤에 육안이나 망원경 또는 카메라 등으로 C에 초점을 맞추어 D의 위치를 조절하면 L에 의한 시야는 암흑 또는 반암흑이 된다. 이때 시료 C에 굴절률이 조금 다른 부분 B가 있으면 광행로(光行路)가 정규상태에서 휘어져 D에서 저지되기도 하고 또는 거꾸로 더 많이 통과하기도 하여 그 부분 이 주위보다 더 어둡거나 또는 더 밝게 보인다. 이렇게 투명물질 속의 결함을 검출하기 위해서는 간섭계(干涉計)의 간섭무늬 변화를 이용하는 방법도 있다. 간섭법은 굴절률의 차를 검출하지만 굴절무늬법은 굴절률 변화의 기울기를 나타내는 것이다.